|
Thickness dependence of positive exchange bias in ferromagnetic/antiferromagnetic bilayers
点击次数:
所属单位:物理科学与技术学院(集成电路学院)
发表刊物:SOLID STATE COMMUNICATIONS Volume
合写作者:胡经国
第一作者:许小勇
论文类型:基础研究
页面范围:952-955
ISSN号:0038-1098
是否译文:否
发表时间:2011-01-01
|
点击次数:
所属单位:物理科学与技术学院(集成电路学院)
发表刊物:SOLID STATE COMMUNICATIONS Volume
合写作者:胡经国
第一作者:许小勇
论文类型:基础研究
页面范围:952-955
ISSN号:0038-1098
是否译文:否
发表时间:2011-01-01