一种X射线光电子能谱测试中去除样品表面所吸附高表面能分子的方法
发布时间:2024-10-18 点击次数:
所属单位:扬州大学
学校署名:扬州大学
发明设计人:周传强
专利说明:一种X射线光电子能谱测试中去除样品表面所吸附高表面能分子的方法
专利类型:发明
申请号:202411314227.3
发明人数:3
是否职务专利:否
申请日期:2024-09-20
第一作者:周传强
发布时间:2024-10-18 点击次数:
所属单位:扬州大学
学校署名:扬州大学
发明设计人:周传强
专利说明:一种X射线光电子能谱测试中去除样品表面所吸附高表面能分子的方法
专利类型:发明
申请号:202411314227.3
发明人数:3
是否职务专利:否
申请日期:2024-09-20
第一作者:周传强